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基于循环向量协同优化电路的NBTI效应和泄漏功耗

更新时间：2020-10-27 18:30:29 大小：5M 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：优化电路 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

当晶体管的特征尺寸减小到45nm时,电路的可靠性已经成为影响系统设计一个关键性因素。负偏压温度不稳定性(NBTI)和泄露功耗引起的电路可靠性现象的主要原因,导致关键门的老化加重,关键路径延迟增加,最终使得芯片失效,影响系统的正常工作。为了缓解NBTI效应和泄露功耗对电路可靠性的影响,延长电路的使用寿命,文中提出了循环向量方法进行协同优化。在ISCAS85基准电路,利用本方法协同优化实验,NBTI效应平均延迟相对改善了10%,泄漏功耗平均降低了15%,证明了循环向量方法的可行性。

When the characteristic size of the transistor is reduced to 45 nm, the reliability of the circuit has become a key factor affecting system design, the main cause of circuit reliability caused by negative bias temperature instability (NBTI) and leakage power consumption, resulting in The aging of the key door is aggravated, and the critical path delay is increased, which eventually causes the chip to fail and affects the normal operation of the system. In order to alleviate the influence of NBTI effect and leakage power on circuit reliability and extend the service life of the circuit, this paper proposed a cyclic vector method for collaborative optimization. In the ISCAS85 reference circuit, used the method of this paper to optimize the experiment, the average delay of NBTI effect was relatively improved at 10%, the leakage power consumption was reduced by an average of 15%, which proved the feasibility of the cyclic vector method.

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