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基于单片机控制的PTCR阻温特性测试系统研究

更新时间：2020-02-19 12:38:41 大小：910K 上传用户：守着阳光1985查看TA发布的资源 标签：单片机数据存储 下载积分：3分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

PTC热敏材料电性能主要由三大特性表征，它包括电阻－温度特性，电压－电流特性以及电流－时间特性，其中电阻－温度特性是PTC热敏材料最基本的特性。PTC热敏材料的阻温特性参数的确定，对于其理论研究和实际生产应用都具有重要的意义。本论文从PTC热敏材料的测试规范出发，在传统的基于PC机、FLUCK45万用表以及温控表的阻温特性测试系统基础上，顺应智能仪表向小型化、低成本发展的趋势，设计开发了基于单片机控制和液晶屏显示的新型热敏电阻阻温特性测试系统。

    系统采用混和信号系统级微控制器C8051F020单片机作为主控芯片，外扩FLASH数据存储器和液晶显示屏，完成对测试数据存储和显示。系统中设计了不同量程的精密恒流源电路，实现了对阻值跨度在0.1欧～600兆欧热敏电阻的精确测量，结合单片机控制，实现了恒流源的量程自动转换，取代了FLUCK45万用表测电阻模块；将测电阻量程从FLUCK45万用表的300兆欧拓宽到了600兆欧；利用单片机的PCA模块产生2 s矩形脉冲并串入移位寄存器，经由光耦和反相模块电路来选通测试样品通道，大大节省了单片机端口；设计了热电偶PT100的外围信号采集电路，将其随温度变化而引起的电阻变化值转换为电压信号，并传入单片机片内的ADC0模块，经单片机处理并加以控制，实现温控表实时控温的功能。

    利用自行设计的系统硬件电路和传统的基于PC机等的测试系统来对PTCR样品进行阻温特性测试，结果表明：两种方法所测得的阻温特性曲线和阻温特性参数符合性很好，证实了本论文中设计的系统硬件电路的可行性。

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