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复杂百万门集成芯片的DFT测试方案
资料介绍
本文介绍了复杂的百万门ASIC芯片Lugia中几个DFT相关问题的解决方案。 这些问题包括：1）用于测试的有限封装引脚; 2）扫描链穿过电源平面边界导致的功率泄漏; 3）DFT模拟样式选择，以节省模拟时间
部分文件列表
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| 00173b35ee8f8afce8493feae744e98c.pdf | 70K |
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