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SJ_T 10349-2020 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYG3型过压保护用氧化锌
资料介绍
SJ_T 10349-2020 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYG3型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平E
本规范是按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草，并且按GB/T 10195.2-1997《电子设备用压敏电阻器 第2部分：空白详细规范 浪涌抑制用压敏电阻器 评定水平E》制定。
本规范代替SJ/T 10349-1993《电子元器件详细规范 浪涌抑制用压敏电阻器 MYG3型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平E》，与SJ/T 10349-1993相比，主要技术变化如下：将产品类型“非绝缘型”改为“绝缘型”
修改了表2~表6中产品的部分性能指标：修改了附录A的最大脉冲峰值曲线图；增加了引用文件GB/T 10195.2-1997《电子设备用压敏电阻器第 2 部分：空白详细规范
氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器 评定水平
将压敏电阻器的电容量指标以规范惦附录的形式放到附录B中。
请注意本文件的某些内容可能涉及类利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本规范由全国电子设备周组容元件标准化技术委员会提出并归口。
无附加内容。
1.8 相对于总规范和分规范所增加的要求
1.8.1 高温（存放）在 125℃±2℃ 中，无负荷放置 1 000h，其后在空温下恢复，恢复时间不少于 1h，不大于 2h.
恢复后压敏电阻器应满足下列要求：
a）外观检验：不应有可见损伤，且标志清楚。
b）压敏电压：变化率在土5%之内.
c）等级电压（限制电压）：变化率不超过 20%.
1.8.2 恒定湿热（存放）在温度为40℃±2℃，相对温度为（90%~95%）中，无负荷放置 1 000h.其后在室温中恢复，恢复时间不少于 1h.不大于 2h。
恢复后压敏电阻器应满足下列要求：
a）外观检验：不应有可见损伤，且标志清楚。
b）压敏电压：变化率在土5%之内
c）等级电压（限制电压）：变化率不超过 20%。
1.8.3 慨温（存放）在温度为-40℃±2℃中，无负荷放置 1000h，其后在室温中恢复，恢复时间不少于1h.不大于 2
h.
恢复后压敏电阻器应满足下列要求：
a）外观检验：不应有可见损伤，且标志清楚。
b）压敏电压：变化率在 土5%之内
c）等级电压（限制电压）：变化率不超过 20%。
1.8.4 脉冲电流寿命试验
对样本施加8/20us脉冲电流波，冲击10"次，间隔时间10s，电流值见表2~表6中"脉冲电流寿命值”，其后在室温中恢复，恢复时间不少于1h，不大于2h.
恢复后压敏电阻器应满足下列要求：
a）外观检验：不应有可见损伤，且标志清楚。
b）压放电压：变化率在 ±10%之内。
c）等级电压（限制电压）：变化率不超过20%.
注：对 1.8.1～1.8.3，仅在产品定型时成材料，工艺改变后进行，不作为周期检检项目。
2 检验要求
2.1 鉴定批准程序
鉴定批准程序应符合分规范 GB/T 10194—1997 中 3.2 规定.
2.2 质量一致性检验程序
对于质量一致性检验，其检验一览表（见表7）包括抽样周期、严酷等级的要求.GB/T 10194-
1997 中 3.3.1 规定了检验批的组成。
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| SJ_T_10349-2020_电子元器件详细规范_浪涌抑制型压敏电阻器_MYG3型过压保护用氧化锌压敏电阻器_评定水平E.pdf | 10M |
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