积分商城

最新搜索： Souce Insight 3.5 恒流源 Vivo手机原理图 UltraEdit canopen301
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法

更新时间：2020-09-16 10:57:16 大小：209K 上传用户：守着阳光1985查看TA发布的资源 标签：iddt 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

以CMOS电路动态电流（IDDT）为研究对象,提出了一种针对IDDT测试信号数据的预处理方法。该方法从统计角度出发,通过计算故障电路IDDT的标准差和偏斜度得到故障特征。文中采用CMOS与非门电路进行仿真,将该方法与小波变换预处理方法进行对比,并结合概率神经网络分类方法对故障进行诊断。仿真结果证明了基于IDDT标准差和偏斜度预处理方法的有效性,并且结合概率神经网络对晶体管桥接故障、阻性开路故障和晶体管参数故障的故障诊断平均正确率达到90.7%。

In this paper,the dynamic current（IDDT）of CMOS circuit is studied,and a preprocessing method for IDDT is fault characteristics are obtained from the standard deviation and the skewness of the s paper uses CMOS NAND gate circuit simulation,the method of wavelet transformation pretreatment methods were compared,and combined with the probabilistic neural network classification method of fault simulation results demonstrate the effectiveness of the proposed method based on the IDDT standard deviation and the skewness of the method,and the average correct rate of the fault diagnosis of the transistor bridge fault,the open circuit fault and the transistor parameters is 90.7%.

部分文件列表

文件名 大小
基于IDDT标准差和偏斜度的故障诊断方法.pdf 209K

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号