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基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究

更新时间：2020-08-20 04:33:25 大小：441K 上传用户：六3无线电查看TA发布的资源 标签：热像仪 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求，基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路，通过软件编程控制单片机完成各种功能，根据测试结果判断单片机功能的正确性，实现了C8051F系列单片机的功能检测。

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基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究.pdf 441K

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