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基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究
资料介绍
根据热像仪对C8051F系列单片机的功能应用需求，基于电路开发环境开展了单片机功能测试技术研究。以热像仪用单片机的电路开发环境为基础设计测试硬件电路，通过软件编程控制单片机完成各种功能，根据测试结果判断单片机功能的正确性，实现了C8051F系列单片机的功能检测。
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| 基于热像仪电路开发环境的单片机功能测试技术研究.pdf | 441K |
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