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一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案
资料介绍
集成电路老化的影响，随着集成工艺尺寸越来越小而越来越明显。其主要影响表现在增加了电路元件的输入一输出信号的延迟，从而降低了电路工作能力。提出一种基于标准库单元的老化监测，并介绍本设计的简单性和灵活性。设计集成电路时可以设计使用不同的老化监测模块，通过阅读放置在每个监控寄存器中的“年龄代码”来确定电路元器件的“年龄”，从而预防和监测电路的故障。
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| 一种基于标准库单元的集成电路老化检测方案.pdf | 167K |
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