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过采样技术提升ADC采样精度
资料介绍
过采样技术提升ADC采样精度
过采样技术是一种以牺牲采样速度来提高ADC分辨率的技术。如12位AD，每秒采集10个数据，采样率位10/秒。根据过采样技术，每提高1位ADC分辨率，需增加4倍的采样速率。从12位提高到14位，共提高2位，所以需将采样率提高2*2*2*2=16倍。原来100ms采集1个数据，而现在100ms需采集16个数据，牺牲采样时间提高了分辨率。将采集的16个数累加后右移2位即得到过采样后的14位ADC数据。
需要注意的是，过采样技术会限制输入信号的频率。根据采样定律，采样率最少是输入信号的2倍才能将原来的信号还原。分辨率提升至14位并不是精度也能提升到14位。
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| 过采样技术提升ADC采样精度.doc | 31K |
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资料：bitboy
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