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详解门级组合电路和时序电路自动测试向量生成技术
资料介绍
集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加 ,而 A TPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义 ,本文
对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析. 针对门级的组合电路和时序电路的 A TPG方法具有
许多相似之处 ,但也同时存在各自的特点 ,在文中 ,对这两类电路的方法进行了仔细的比较、区分。
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