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含复杂可编程逻辑器件电路板的自动测试技术研究
资料介绍
复杂可编程逻辑器件作为电路的核心器件,其故障往往会导致整个电路功能失效。论文详述了国内外含复杂可编程逻辑器件的研究现状,并在分析现有主要采用的测试方法优缺点的基础上,对发展方向和思路进行了分析探索。
The fault of complex programmable logic device as the core device circuit often leads to failure of the entire circuit this paper,research status of complex programmable logic device with the domestic and foreign details,and the existing testing method mainly adopted based on analyzing the advantages and disadvantages,are analyzed to explore the idea and direction.
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| 含复杂可编程逻辑器件电路板的自动测试技术研究.pdf | 333K |
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