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一种射频识别卡电路的可测性设计

更新时间：2020-07-30 04:36:12 大小：597K 上传用户：六3无线电查看TA发布的资源 标签：射频识别电路设计 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着CMOS器件进入深亚微米阶段，集成电路的规模、复杂度以及测试成本都急剧提高，与此同时人们对集成电路的可靠性要求也越来越高。集成电路系统的测试是一个费时而艰巨的过程，必须综合考虑到测试的功能、性能等诸多问题，并能以较低的成本来实现较高质量的测试，因此对超大规模集成电路的测试研究已成为IC设计中不可缺少的一部分。而可测试性设计（DFT）就是通过增加辅助电路来降低电路的测试难度、从而降低其测试成本的一种测试。文章针对一款非接触式射频卡电路，分析了其工作原理和模块组成，研究了其测试电路，通过对输出端口信息的测试，可以清楚地知道内部各模块的功能与性能，达到了验证电路可靠性的目的。

With CMOS devices dimensions having been down to deep-submicro, the scale,complexity, testing cost of the Intergrated Circuits has been increased sharply, and the people has a increasingly high requirements to Intergrated Circuits＇ reliability. The testing of Intergrated Circuits is time-consuming and arduous process, people must take all factor into consideration, such as the functions and performances, in order to a high quality with the lower cost, so the searching for the testing of VISL has been a very important part of IC design. The Design for Testability （DFT） is the test which reduces the difficulty and cost of testing by adding aided circuit...

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