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一种八位单片机的测试解决方案
资料介绍
本文的研究目的是提供一个完整的单片机测试流程，从设计到生产，更多的关注业界中使用的实际操作方法。本文从典型的51系列单片机的电路结构分析开始，再结合集成电路的测试基本原理，深入的研究了单片机的测试方法，最后实现单片机的量产测试。
首先本文介绍了通用的51系列单片机的架构。通过对单片机不同模块的功能介绍，说明了一些模块的电路结构和功能描述，为之后的测试讨论奠定了基础。接下来介绍了一些有关集成电路测试的基础知识，了解这些测试原理，可以更深入的开发测试算法或者使用可测性设计(DFT)技术。
然后本文介绍了单片机测试常用的DFT技术，通过使用扫描(SCAN)测试方法，可以实现大部分数字电路的测试，包括单片机的组合电路和时序电路部分。而使用存储器内建测试(MBIST)技术，可以高效的完成单片机内部嵌入式的存储器测试。静态电流(IDDQ)测试则从单片机的可靠性角度出发，能够检测出很多芯片内部的潜在问题。将以上的几种方法结合，就能生产出易于测试的单片机芯片。
之后，介绍如何根据以上使用的测试方法产生测试程序，并且通过ATE实现量产测试，其中详细的介绍了单片机的参数测试和功能测试，以及测试图形如何产生。除此之外，还讨论了在量产测试中常用的芯片失效分析方法，以及低成本测试的一些方案。对于单片机这种成本敏感的产品上，低成本测试有很广泛的应用，是一个可持续研究的方向。
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