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气隙设计对电感绕组损耗的影响
资料介绍
采用高导磁材料铁氧体磁芯来绕制的电感， 在电感气隙附近存在扩散磁通，会使临近的绕组产生涡流，导致绕组损耗 ( 铜损)增加。为了使绕组避开气隙附近的扩散磁通，绕组布置时，需避开气隙 3个左右 的气隙长度I J J 。 然而对于较大的气隙， 那样做将使磁芯窗口的利用率大大降低。 针对上述问题， 文献[ 3 ， 4 】提出了用多个小气隙来构成分布气隙。另外文献[ 5 】提出利用交错气隙以减小旁路磁通， 从而减小绕组损耗。
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