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典型射频芯片测试介绍与 测量仪器的程控(GPIB)
资料介绍
12.1 射频集成电路测试基本问题
12.2 滤波器主要技术指标及其测试方案
12.3 低噪声放大器主要技术指标及其测试方案
12.4 功率放大器主要技术指标及其测试方案
12.5 振荡器主要技术指标及其测试方案
12.6 混频器主要技术指标及其测试方案
12.7 调制解调器主要技术指标及其测试方案
12.8 电子测量自动化
12.9 GPIB总线标准
12.10 VXI总线系统简介
12.11 ATE自动测试系统
第六次实验 典型射频芯片测试
第十二讲 典型射频芯片测试介绍与测量仪器的程控(GPIB)小结
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