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CPU-GPU-FPGA 3D集成封装技术研究
资料介绍
一、引言
随着摩尔定律逐渐接近物理极限,传统二维平面集成技术面临功耗、带宽和延迟的瓶颈。3D集成封装技术通过垂直堆叠芯片,实现了高密度互联和系统级集成,成为突破性能限制的关键方向。CPU-GPU-FPGA的3D集成将计算单元(CPU)、图形处理单元(GPU)和可编程逻辑单元(FPGA)通过垂直互联集成,可充分发挥各类计算架构的优势,满足高性能计算、人工智能、边缘计算等场景的需求。
二、3D集成封装技术基础
(一)3D集成技术分类
堆叠方式:包括晶圆级堆叠(Wafer-on-Wafer)、芯片级堆叠(Die-on-Die)和封装体堆叠(Package-on-Package),其中晶圆级堆叠可实现更高的集成密度。
键合技术:主要有铜-铜直接键合、混合键合(Hybrid Bonding)和微凸点键合(Microbump),混合键合通过金属-绝缘体的协同键合实现纳米级互联间距。
(二)垂直互联技术
3D集成的核心在于垂直互联通道,目前主流技术包括:
硅通孔(TSV):通过在硅片上蚀刻通孔并填充金属,实现芯片间的垂直电连接,具有低延迟、高带宽特性。
redistribution layer(RDL):重新布线层,用于连接不同芯片的I/O接口,优化信号路径。
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