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【实战经验】STM32的高速USB信号质量测试实现
资料介绍
STM32提供了丰富的接口资源，其中包括USB FS、USB HS、OTG FS和OTG HS。对于高速USB，由于信号速率相对较高。在开发过程中，会对高速USB信号质量进行测试，例如运用广泛的眼图测试。STM32的高速USB/OTG IP遵循USB 2.0规范，能够配合实现眼图等信号质量测试项。本文中，首先介绍眼图等信号质量测试的实现框架，然后以Cube软件包中USB 设备类的HID例程为基础，提供软件层面的修改。最后通过USB官方提供的HSETT工具，一步一步呈现如何使STM32实现的USB设备进入测试模式，以便使其输出用以获取眼图等测试项的信号。
本文简略的从STM32角度，描述了高速USB信号质量测试中，涉及到的修改及实现。对于具体的测试及分析，不在本文介绍范围内，读者可以通过提供的参考文档Universal Serial Bus Implementers Forum Device Hi-Speed Electrical Test Procedure，更加全面的了解信号质量测试的步骤及实现。另外，文件中以HID设备为例，但需知测试实现与哪种类型USB设备无关。
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| STM32_USB_HS_signal_quality_test.pdf | 577K |
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