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从双脉冲到动态RDS(on):GaN器件动态参数测试全解析

更新时间:2026-09-17 10:35:15 大小:2M 上传用户:21ic下载查看TA发布的资源 标签:GaN泰克示波器动态参数测试 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(3) 举报

资料介绍

GaN器件凭借高速开关和低损耗优势,正加速应用于数据中心电源、新能源汽车OBC/DC-DC及高频电源等领域,但ns级开关瞬态也对测试带宽、探头选型、寄生参数和通道时延提出了更高要求。本文结合泰克高分辨率示波器及专用探头方案,从动态双脉冲测试、相位延迟校准、寄生电感量化,到栅极电荷及动态RDS(on)测试,系统解析GaN器件动态参数测试中的关键方法与实际测试思路,为器件研发、可靠性验证及第三方检测提供参考。

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GaN器件测试方案-泰克示波器与探头.pdf 2M

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