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从双脉冲到动态RDS(on)：GaN器件动态参数测试全解析

更新时间：2026-09-17 10:35:15 大小：2M 上传用户：21ic下载查看TA发布的资源 标签：GaN泰克示波器动态参数测试 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(4) 举报

资料介绍

GaN器件凭借高速开关和低损耗优势，正加速应用于数据中心电源、新能源汽车OBC/DC-DC及高频电源等领域，但ns级开关瞬态也对测试带宽、探头选型、寄生参数和通道时延提出了更高要求。本文结合泰克高分辨率示波器及专用探头方案，从动态双脉冲测试、相位延迟校准、寄生电感量化，到栅极电荷及动态RDS(on)测试，系统解析GaN器件动态参数测试中的关键方法与实际测试思路，为器件研发、可靠性验证及第三方检测提供参考。

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文件名 大小
GaN器件测试方案-泰克示波器与探头.pdf 2M

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全部评论(4)

  • 2026-10-18 22:33:01范行

    这个想法不错

  • 2026-10-11 20:28:34Zc好15415

    这个想法真不错

  • 2026-10-09 21:59:18vacuumpig

    加油

  • 2026-10-09 10:43:16ZCHXXX05

    好

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