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测试成本的挑战及对策

更新时间:2024-04-01 18:00:47 大小:1M 上传用户:kzon7查看TA发布的资源 标签:测试成本 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装等。

大量测试需求使得测试成本越来越高,寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能控制成本尤为重要。

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