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测试成本的挑战及对策
资料介绍
集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装等。
大量测试需求使得测试成本越来越高,寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能控制成本尤为重要。
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| 测试成本的挑战及对策.pdf | 1M |
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