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  • 测试成本的挑战及对策

    大小:1M 更新时间:2024-04-01 下载积分:2分

    集成电路制造流程极其复杂,包括设计、制造、封装等。大量测试需求使得测试成本越来越高,寻求一种测试方法既能保证芯片质量和可靠性,又能控制成本尤为重要。

    标签:测试成本
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kzon7

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