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基于FPGA的集成电路测试系统设计

更新时间：2020-07-21 04:39:08 大小：432K 上传用户：六3无线电查看TA发布的资源 标签：fpga集成电路 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着电路设计技术的不断发展，集成电路的测试对保证电路可靠性的作用日益增加。集成电路的测试不仅对确保电路的可靠性有重要作用，而且可以降低电路与系统的制造成本。本文是基于集成电路的逻辑功能测试理论，通过测试集成电路的逻辑功能是否正常来判断电路功能是否正常。实验结果表明，该系统测试便捷，准确，对于芯片的生产商和使用者都具有较重要的意义。

With the development of IC design technolog＇y, integrated circuit testing to ensure the reliabilit3, of the circuit＇ s role in increasing.Integrated circuit test is not only important to ensure the reliabilitT of the circuit, but also can reduce the manufacturing cost of circuits and systems.This is the logic function test based on the theory of integrated circuit, the logic function testing of the integrated circuit is normal to judge whether the normal function of the circuit.The experimental results show that, the system test is convenient, accurate, is of important significance for the chip manufacturers and users.

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