积分商城

最新搜索： 单边带收音机 RX8010SJ应用手册V1.1 KSZ8995 HyperLynx 9.4，win 64位版本破解 ESP32 PADS
您现在的位置是：首页 > 教程 > ESD对复杂可编程逻辑器件和现场可编程门阵列的影响
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

ESD对复杂可编程逻辑器件和现场可编程门阵列的影响

更新时间：2019-01-25 15:24:26 大小：6M 上传用户：z00查看TA发布的资源 标签：esd可编程逻辑器件 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

复杂的电子设备变得越来越敏感静电放电（ESD）。这些组件正在以更高的密度（每单位体积的额外存储位）开发并且变得更快（MHz，GHz，THz等）。这些技术升级并非没有“技术价格”。通过提高产品性能以满足用户的需求和要求，一个缺点是ESD灵敏度电压水平的降低。在与数模转换器（DAC）模块相连的ALS-SDA-CPLD / FPGA培训套件上进行了间接和直接空气/接触放电测试。

现场可编程门阵列（FPGA）和复杂可编程逻辑器件（CPLD）对ESD非常敏感。在接触放电到输入引脚期间，FPGA 3s50 IC受到影响。焊盘损坏以及金属顶层损坏。在ESD放电期间，DAC IC受到影响 - 一个是由于直接的ESD效应，另一个是由于间接的ESD影响。在CPLD 9572 IC中观察到介电击穿损坏。


部分文件列表

文件名 大小
esd-effects-programmable-devices-arrays.pdf 6M

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

资料专题

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号