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静电放电抗扰度
资料介绍
一、概述
静电放电抗扰度(Electrostatic Discharge Immunity,简称ESD Immunity)是指电子设备或系统在受到静电放电干扰时,仍能保持正常工作性能的能力。随着电子技术的飞速发展,集成电路的特征尺寸不断减小,器件对静电放电的敏感性显著提高,静电放电已成为导致电子设备失效的主要原因之一。因此,研究和提高静电放电抗扰度对于保障电子设备的可靠性和稳定性具有重要意义。
二、静电放电的产生与危害
(一)静电放电的产生
静电是物体表面过剩或不足的静电荷,当两个具有不同静电电位的物体相互靠近或接触时,就会发生电荷转移,产生静电放电现象。静电放电的产生主要与以下因素有关:
· 摩擦起电:不同物质相互摩擦时,由于电子的转移,使物体表面带上静电。例如,人体与衣物摩擦、塑料与其他材料摩擦等都可能产生静电。
· 感应起电:当一个带电体靠近另一个不带电的导体时,导体两端会感应出等量异种电荷,若导体接地,其中一种电荷会被中和,从而使导体带上静电。
· 接触分离起电:两个相互接触的物体,由于分子间的作用力,会在接触面上发生电荷转移。当它们分离时,由于电荷不能完全中和,从而使物体带上静电。
(二)静电放电的危害
静电放电对电子设备的危害主要表现在以下几个方面:
· 直接损坏:静电放电产生的瞬间高电压和大电流会直接击穿半导体器件,导致器件永久损坏。例如,CMOS器件的栅氧化层很薄,容易被静电放电击穿。
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