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光耦智能门驱动器中去饱和度故障检测

更新时间:2022-11-23 15:32:56 大小:854K 上传用户:腾恩科技彭工查看TA发布的资源 标签:驱动器光耦 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(2) 举报

资料介绍

本应用说明介绍了智能系统中去饱和故障检测功能的设计门驱动程序。 以及去饱和度故障检测功能在驱动程序中如何工作。

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光耦智能门驱动器中去饱和度故障检测.docx 854K

全部评论(2)

  • 2024-11-11 10:28:46xmfox

    文件不错,学习一下

  • 2022-11-24 10:19:59fengtaixiang131

    简单扼要

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