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llc mos 失效分析
资料介绍
提高功率密度已经成为电源变换器的发展趋势。为达到
这个目标，需要提高开关频率，从而降低功率损耗、系
统整体尺寸以及重量。对于当今的开关电源(SMPS)而
言，具有高可靠性也是非常重要的。零电压开关(ZVS)
或零电流开关(ZCS) 拓扑允许采用高频开关技术，可以
最大限度地降低开关损耗。ZVS拓扑允许工作在高频开
关下，能够改善效率，能够降低应用的尺寸，还能够降
低功率开关的应力，因此可以改善系统的可靠性。LLC
谐振半桥变换器因其自身具有的多种优势逐渐成为一种
主流拓扑。这种拓扑得到了广泛的应用，包括高端服务
器、平板显示器电源的应用。但是，包含有LLC谐振半
桥的ZVS桥式拓扑，需要一个带有反向快速恢复体二极
管的MOSFET，才能获得更高的可靠性。本应用笔记讨
论了LLC谐振变换器中潜在失效模式和机理，并为防止
失效，提供一种简单、高性价比的解决方案。
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| AN-9067_llc_mos_失效分析.pdf | 2M |
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