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Motorola元件库的测试与验证方法.docx
资料介绍
Motorola 元件库的测试与验证方法
ICT 测试、边界扫描与功能测试向量生成
一、概述
在产品从设计到量产的转换过程中，测试与验证是确保制造质量的核心环节。Motorola 元件库在 IC 器件的参数中嵌入了测试相关的关键信息——包括 JTAG 边界扫描链配置、ICT 测试点建议以及功能测试向量参考，为测试工程团队提供设计端的数据支持。
二、JTAG 边界扫描测试支持
Motorola 元件库中具有 JTAG 接口的器件标注了完整的边界扫描信息：
1. BSDL 文件关联：元件库参数中记录了 BSDL 文件的路径链接。BSDL 文件描述了器件的边界扫描链结构——边界寄存器长度、每个 I/O 引脚对应的扫描单元编号以及支持的指令集（EXTEST、SAMPLE/PRELOAD、BYPASS）。设计者可将 BSDL 文件直接导入测试系统。
2. JTAG 链配置：库参数标注了器件在 JTAG 链中的 IDCODE 和 TCK 时钟频率上限。多器件级联时的链顺序和布线长度匹配在封装注释中给出建议。
3. 测试覆盖率：边界扫描覆盖所有数字 I/O 引脚。库中标注了哪些引脚不在扫描链中（如电源、晶振引脚），需设计额外测试方案。
三、ICT 测试点设计
1. 测试点位置：BGA/QFN 封装在焊盘布局中标注了哪些引脚可通过底层过孔扇出兼做测试点。无扇出引脚的信号需额外添加测试焊盘。
2. 间距要求：封装库的焊盘间距数据可评估相邻测试点间距是否满足 ICT 针床的最小间距要求（通常 ≥1.27mm）。
3. BGA 外围访问：底层测试点只能布置在 BGA 焊盘阵列的外围扇出区域。球栅坐标表帮助确定可访问性。
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| 54_Motorola元件库的测试与验证方法.docx | 38K |
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