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缩减反射波的工具盒
资料介绍
为了模拟自由空间的传播条件，大多数近场天线的测量都是在屏蔽暗室内进行的。围绕暗室的所有的内表面一般都粘贴高质量的吸收材料,否则这些表面会通过多种反射和/或绕射的组合向测试区域发射能量，从而影响测试工作。
大多数设计良好的暗室里所进行的测量案例中, 来源于这些在下面的讨论中被称为是反射波或反射波污染的额外的误差信号对于测量不确定性的贡献被认为是可以略去不计的[1]。但是在特殊的测量条件下和/或当需要非常高的精度的测量中, 以上的考虑不再成立。在大角度入射的情况下，即使在吸收体覆盖的表面上都可能出现重大的反射波贡献。此外, 如果暗室使用在频率接近或低于吸收体的工作频率的下限, 由于吸收材料在这些频率范围的吸收特性的降低，测试区域的质量就被强烈的反射波降低了。测试区域的反射波污染的另一个来源是当被测天线放置得离开暗室壁太近或者太接近那些无法有效地用吸收体覆盖的测试对象。
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