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SJT10196-1991 中 小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法

更新时间：2024-06-20 21:50:30 大小：152K 上传用户：xuzhen1查看TA发布的资源 标签：数字集成电路 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

主题内容与适用范围  本标准规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪(以下简称 IC测试仪)有关性能特 性的测试方法。  本标准适用于测试 SJ/T 10195《中、小规模数字集体电路静态参数测试仪通用技术条件》 中所规定的性能特性及误差。 2 引用标准 SJ/T 10195 中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件 GB 6592 电子测量仪器误差的一般规定 3 A9试的一般要求 3. 1 IC测试仪带有可更换的插入单元、附加装置时，它们应作为一个整体进行鉴定检验和质 量一致性检验，并应符合产品标准规定。 3.2 被测IC测试仪和所用测试设备应按有关产品标准中所规定的预热时间进行预热。 3-3 当采用本标准以外的测试方法时，必须经上级主管部门批准，并在产品标准中特别说明。 但与本标准发生争议时，应以本标准为准。 4 测试条件 IC测试仪的测试条件应 符合产品标准规定. 5 测试设备 5.1 对测试设备的要求  所用测试设备应符合GB 6592的要求。必须经过计量部门计量合格，且在有效期内. 5.2 测试设备  a. 标准直流电压表;  b 标准直流电压源;  c. 标准直流电流表;  d. 直流稳压电源;

功率 表 ; 精密电阻器和精密电阻箱; 负载电阻器。 6 测试项目及测试方法 6,1 外观及功能正常性检查 6.1.1 外观检查  应符合SJ/T 10195中5.13.1条的要求，以目测等方法进行检查。 6.1.2 功能正常性检查  应按产品标准规定的要求和方法进行检查。 6.2 电压表指标的测试  本标准提供下述两种测试方法，测试结果应相同。如发生争议.以方法二为准 6.2.1 方法一 6.2.1.1 测试原理图

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SJT10196-1991_中,小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法.pdf 152K

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