推荐星级:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Power-constrained Testing of VLSI Circuits (英).pdf

更新时间:2011-11-27 16:00:01 大小:15M 上传用户:hrd 查看TA发布的资源 标签:Power-constrainedCircuitsTesting 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

资料->【E】光盘论文->【E5】英文书籍->Power-constrained Testing of VLSI Circuits (英).pdf

部分文件列表

文件名 大小
Power-constrained Testing of VLSI Circuits (英).pdf 15M

全部评论(0)

暂无评论

上传资源 上传优质资源有赏金

  • 打赏
  • 30日榜单

推荐下载