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用于测试FPGA中可配置嵌入式存储器的高效内置自测（BIST）方法
资料介绍
FPGA中的嵌入式存储器在每一代新产品中都有所发展。一些FGPA供应商在他们的设备中拥有复杂的记忆。这些器件包括Xilinx的Virtex系列，Altera的Stratix系列和Atmel的AT40k系列FPGA。这些嵌入式存储器具有高度可编程性，可为用户提供许多选项，例如可选字深度和数据宽度。其他操作模式包括内置FIFO支持和与相邻柱塞的级联性以及更多功能。
利用所有这些集成功能，需要一种用于测试该存储器资源的方法。已经有许多已发布的内存测试算法用于检测内存故障。这些算法适用于测试FPGA中的存储器资源。测试内存资源的主要问题是检测所有故障所需的测试时间。使用最新的Virtex 4 FPGA作为模型，本文将讨论用于测试内存资源的BIST方法，通过该方法使用一组特定的行军测试来完全测试内存资源，同时最大限度地缩短测试所需的时间
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| 文件名 | 大小 |
| Milton_MemBIST.doc | 151K |
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