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东方集成IC芯片测试解决方案--RSA306 射频方案

更新时间:2016-11-06 20:59:23 大小:2M 上传用户:lihui567查看TA发布的资源 标签:东方集成IC芯片 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

在进行移动通信设备,或电池供电设备的IC设计验证过程中,功耗的测量和验证是非常重要的环节。降低芯片的直流功耗,有助于优化整个产品的耗电性能,提高产品的用户体验,增加产品在市场的竞争力。

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