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半导体特性分析应用指南

更新时间:2016-08-22 23:11:34 大小:5M 上传用户:lark100查看TA发布的资源 标签:泰克半导体特性分析 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

该应用指南提供了多种方法和技巧: (1)简化MOS电容器的C-V特性分析 (2)在相同的器件上执行I-V测量和C-V测量,而不需改变线缆 (3)使用新型超快速单脉冲技术(UFSP),准确评估迁移率 (4)在一个器件上在DC I-V测量、C-V测量和脉冲式I-V测量之间切换

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