积分商城

最新搜索： RFID SDK gp2y1010 HFSS RDA5807 microBUCK和microBRICK直流/直流稳压器解决方案 嵌入式八股文
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > Freescale单片机MC68HC908GR8系列测试并行度提升
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

Freescale单片机MC68HC908GR8系列测试并行度提升

更新时间：2020-02-12 14:34:57 大小：4M 上传用户：zhiyao6查看TA发布的资源 标签：freescale单片机 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

Freescale半导体公司是美国最大的半导体制造商之一，以生产优质半导体产品而闻名于世。她的产品种类多达几万种，其中主要的一项产品就是单片机(Micro Controller Unit)。Freescale单片机具有性能优异，功能齐全，可靠性强，品种繁多，性能价格比高，使用方便等许多显著特点，在家用电器，仪器仪表，汽车工业，通讯和智能化控制领域得到了广泛的应用。其中MC68HC908GR8系列是Freescale最新推出的8位新型单片机，也是Freescale公司目前大力推广的产品之一，用以替代M68HC05系列单片机。它是专门为汽车电子中的低功耗、单片上系统而设计。      在MC68HC908系列单片机的生产制造流程中，测试是十分重要的一环。不断增加的MCU器件复杂度进一步提高了测试需求，对测试成本也有了更高的限制。芯片制造商通过下面一些方法降低测试成本：1)通过应用新的测试技术减少测试时间，2)增加并行度和吞吐量，3)通过增强灵活性和可扩展性提高测试设备的利用率和使用寿命。      本论文从增加芯片测试系统并行度的角度入手，接合数字电路测试理论和Teradyne J750测试系统原理，通过设计并行度为8的新测试板(loadboard)和修改测试程序等方面的工作对J750系统进行测试并行度方面改进，将MC68HC908GR8系列产品的测试并行度从4提升至8，同时解决了GR8芯片A/D模块测试低良品率和LVI模块测试低良品率的问题，提高了生产效率。      相关性实验证明，整个项目过程符合生产可靠性和工程设计理论，提升并行度后的测试系统能够满足高并行度下芯片测试要求。通过本项目，我们对半导体行业后道工艺有了进一步的了解，对数字电路测试原理、数模混合电路测试原理、Teradyne J750测试平台工作原理有了深入的认识、掌握了DELTA FLEX(UTS)型号Handler操作规程。尤其重要的是，我们掌握了工程实践中解决问题和开展科研工作的一般方法和原则，这些经验对于以后的科研工作具有指导性意义。      MC68HC908GR8系列产品并行度提升项目不仅节省了测试系统资源，降低了测试成本，而且对飞思卡尔半导体有限公司2006年全年毛利率达到50％做出了重大...

部分文件列表

文件名 大小
Freescale单片机MC68HC908GR8系列测试并行度提升.pdf 4M

【关注视频号领20积分】   【关注公众号立即送20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号