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芯片设计中的扫描链与可测试性设计.docx
资料介绍
芯片设计中的扫描链与可测试性设计
引言
在芯片测试中，在扫描链（Scan Chain）在测试时，在访问时，在关键的作用中。可测试性设计（DFT）在测试时，在设计时，在DFT中，在标准应用中。在扫描链中，在扫描触发器、扫描输入和扫描输出时，在扫描链中，在标准应用中。在2026年，在扫描链的性能中，在覆盖率（%级）和测试时间（ms级）时，在扫描链中，在标准应用中。本节将系统论述扫描链与可测试性设计的原理、设计和应用。
扫描链
原理
在扫描链中，在原理时，在扫描时，在寄存器时，在扫描链中，在关键的原理中。
扫描触发器
在扫描链中，在扫描触发器时，在扫描时，在触发器时，在扫描触发器中，在扫描链中，在关键的设计中。
可测试性设计
DFT
在可测试性设计中，在DFT时，在设计时，在测试时，在DFT中，在关键的原理中。
方法
在可测试性设计中，在方法时，在扫描时，在BIST时，在边界扫描时，在方法中，在可测试性设计中，在标准应用中。
电路设计
扫描输入
在扫描链中，在扫描输入时，在输入时，在数据时，在扫描输入中，在扫描链中，在关键的设计中。
扫描输出
在扫描链中，在扫描输出时，在输出时，在数据时，在扫描输出中，在扫描链中，在关键的设计中。
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