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资料介绍

光芯片的异质外延生长技术与晶格失配管理

引言

异质外延生长是在不同材料的衬底上生长外延薄膜的技术,在光芯片制造中用于在硅衬底上生长III-V族材料,实现硅光芯片的片上光源。2026年,异质外延生长技术在硅基量子点激光器和硅基光电探测器的制造中取得了重要进展,在硅衬底上直接生长InAs量子点激光器已实现室温连续激射。晶格失配是异质外延生长的核心挑战,通过缓冲层技术和量子点结构可有效管理晶格失配。

异质外延原理

晶格失配

当外延材料与衬底材料的晶格常数不同时,在界面处产生晶格失配应力,应力超过一定限度时会产生位错缺陷,影响外延层的质量。

异质外延生长是硅光芯片实现片上光源的关键技术,在硅衬底上直接生长InAs量子点激光器已实现室温连续激射,寿命超过10万小时。晶格失配管理通过缓冲层和量子点结构,将位错密度控制在10⁶/cm²以下,使激光器的性能满足通信应用的要求。

缓冲层技术

1. 组分渐变缓冲层:通过逐渐改变缓冲层的组分,逐步释放晶格失配应力

2. 超晶格缓冲层:通过多层交替的薄膜结构,阻挡位错的传播

量子点技术

应变自组装

量子点通过应变自组装模式形成,在晶格失配的应力驱动下,二维生长转变为三维岛状生长,形成纳米尺度的量子点。量子点对缺陷的容忍度高于量子阱,可在高缺陷密度的衬底上实现高效发光。

位错控制

位错密度

异质外延中的位错密度需控制在10⁶/cm²以下,在硅基量子点激光器中,通过优化缓冲层和量子点结构,位错密度已降至10⁵/cm²量级。

应用场景

硅基光源

在硅光芯片上直接生长III-V族激光器,实现硅光芯片的片上光源,是硅光集成的重要发展方向。


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