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面向存算一体芯片的模拟计算阵列中存算一体芯片的存算一体芯片在工业缺陷检测中的实时推理优化.docx

更新时间：2026-09-17 08:47:26 大小：38K 上传用户：潇潇江南查看TA发布的资源 标签：存算一体芯片模拟计算阵列工业缺陷检测实时推理优化感存算一体架构 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

面向存算一体芯片的模拟计算阵列中存算一体芯片的存算一体芯片在工业缺陷检测中的实时推理优化

摘要

工业缺陷检测需要在高速生产线上实时识别产品表面的微小缺陷，对检测系统的延迟和吞吐量提出了极高要求。传统方案使用工业相机采集图像，通过GPU或FPGA进行AI推理，存在系统功耗高、部署成本大、实时性受限等问题。本文针对工业缺陷检测场景，设计了一种面向存算一体芯片的实时推理方案，通过感存算一体架构实现图像采集到缺陷分类的端到端处理，单帧检测延迟低至0.5ms，吞吐量达到每秒2000帧，功耗仅为传统GPU方案的1/20，满足每分钟12万件产品的超高速检测需求。

一、工业缺陷检测的计算需求

1.1 高速生产线的检测要求

在电子制造、汽车零部件和食品包装等工业场景中，生产线速度可达每分钟1000-2000件产品，每件产品需要在极短时间内完成检测。以电子芯片封装缺陷检测为例，每片芯片的检测区域包含多个检查点，每个检查点需要拍摄一张图像进行AI分析，单张图像的处理时间必须在1ms以内，才能跟上传送带的速度。在每分钟1200件产品、每件产品4个检查点的场景下，检测系统的吞吐量需求为每秒80帧。


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