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CFDA电路板热辐射失效分析系统(中文)-何文涛

更新时间:2018-11-02 09:04:44 大小:757K 上传用户:z00查看TA发布的资源 标签:cfda电路板热辐射 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

电路板 、半导体 或 MEMS器件中短路 非常难以排查。现有 非常难以排查。现有 测试设备能够检 测到短路 存在,但通常很难定位缺陷 存在,但通常很难定位缺陷 的具体 位置。特别是 位置。特别是 局部 短路和低电阻, 采用传统电信号分析的方法, 技术人员 需要 花费 很长的 时间 才能 定位一个 这些微 观短路 的具体 位置。

短路 通常会造成区域温度升高。阻短路 通常会造成区域温度升高。阻(≥10 欧姆 )引起的 温升 会超过 1℃。 低阻短路由于小得多的耗散功率和热量,非常 低阻短路由于小得多的耗散功率和热量,非常 难以察觉 。例如,一个 。例如,一个 。例如,一个 0.5 欧姆的 短路,可能只会 出现小于 0.2 ℃的温升。

CFDA 系统 富有经验的降噪和图像 富有经验的降噪和图像 处理 软件 模型对比 算法提供了 高速精度 的探测和 故障 定位 能力 ,可以应用于 小1mW 的耗散功率和小于 0.01℃温升的 电路板 、半导体器件的 缺陷 探测和 故障 定位。 通常 情况下 测试 10 秒钟即可定位 到故障区域 。同时本系统 具有 大电流机械继器 保护装置, 可以 使器件 在加电 过 程与软件测试 保持 同步 与安全 。


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