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blog高速ADC、DAC测试原理及测试方法

更新时间:2019-12-10 10:27:44 大小:2M 上传用户:xuzhen1查看TA发布的资源 浏览次数:236 下载积分:0分 出售积分赚钱 评价赚积分 ( 如何评价?) 标签:blogadcdac 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高,以及对于系统灵敏度等要求的不断提高,对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中,一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号,另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此,保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的,需要借助昂贵的半导体测试仪器,但是对于板级和系统级的设计人员来说,更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。

ADC的主要参数

ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有:Differential Non-Linearity(DNL)

Integral Non-Linearity(INL)

Offset Err or Full Scale Gain Error动态指标主要有:Total har monic distorti on(THD)

Signal-to-noise plus distortion(SINAD)

Effective Number of Bits(ENOB)

Signal-to-noise ratio(SNR)

Spurious free dynamic range(SFDR


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