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blog高速ADC、DAC测试原理及测试方法
资料介绍
随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。
ADC的主要参数
ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有：Differential Non-Linearity（DNL）
Integral Non-Linearity（INL）
Offset Err or Full Scale Gain Error动态指标主要有：Total har monic distorti on（THD）
Signal-to-noise plus distortion（SINAD）
Effective Number of Bits（ENOB）
Signal-to-noise ratio（SNR）
Spurious free dynamic range（SFDR
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