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扫描模式下的ADC 发生通道间串扰

更新时间:2021-01-13 13:00:36 大小:222K 上传用户:tpgf查看TA发布的资源 标签:adc 下载积分:0分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

该问题由某客户提出,发生在STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品中,需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上,采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。然而,在调试中过程中发现一个奇怪的现象:当将各路模拟信号的电平设置成相同时,ADC 对各路模拟信号的转换结果相同,用 A 来表示。改变其中一路模拟信号的电平,并保持其各路模拟信号的电平不变,则 ADC 对该路信号的转换结果变为 B。然而,此时与其在扫描次序上相邻的下一路模拟信号的转换结果也发生

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