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YDT821-1996 数字传输性能测量的数字图形

更新时间：2024-04-16 20:37:12 大小：481K 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：数字传输 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

范围

本标准规定了标准的和成帧的测试序列，以及在 PDH 和 SDH 系统上，差错性能测量的块长本标准是工作在各类比特率的数字传输系统，及其复用/分用器以及开业务监测的差储性能测量及测量设备的技术设计和制造的依据。

2标准的测试序列

标准测试序列是在某一规定的数字速率上，对数字传输设备或点对点的数字通道进行差错性能评价时，必需采用的测试序列。

比特差错测量，对评价数字传输设备的性能是一种重要的手段。只有测量序列的比特序列是完全已知时，才能进行所谓的“真”比特差错的测量，这时应能检出每个比特差错。而实际的业务由于其随机性质，通常不能满足上述条件。

所以，有必要规定可再现的，尽可能接近模拟实际业务的测试序列。可再现的测试序列也是完成点到点测量的先决条件。

具有 2--1 长度的伪随机序列是此问题最普通的解答，除了 n 个连续 0（所调的反转信号）和 n-1个连续 1 的字符串以外，在取决于n 的字符申长度内，该序列包含任意可能 0 和 1 的组合。

（有关 n 的值，见第 3章）本标准规定了不同长度的伪随机序列。

3 伪随机测试序列的应用

测试序列的特性应符合所测试系统的要求，通常，伪随机序列的长度应随被测量的比特率增加而增加。这样可以避免序列的重复频率太高，而与实践中遇到的状态不一致伪随机序列的产生，可借助于具有适当反馈的移位寄存器。如果该移位寄存器有n级，则最大的序列长度将是 2*-1 比特。

如果数字信号直接地从移位寄存器的输出（非反转信号）取出，则最长的连0 字符个数将等于n-1.

如果该信号被反转，将产生 n个连0字符。

除采用移位寄存器以外，还可能有其它的方法产生具有这些特性的伪随机序列。

3.1 通过扰码器的差错测量

在测试过程中，可能含有扰码器，若第3章所述的n值与扰码器的级数共有整数倍，则可能得出不期望的测量结果。为了减少将产生此问题的可能性，规定了测试序列的n值为一个质数。

3.2 序列同步的丢失

只有在测试建立的接收侧，其参考序列正确地同步于来自被测对象的序列时，才能完成采用伪随机序列的比特差错的测量。为了获得一致的测量结果，必须规定序列同步的特性。

下列要求可适用于，采用伪随机序列处理差错性能测量的全部 ITU-T O系列建议。


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