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Intel Stratix 10 JTAG 边界扫描测试用户指南

更新时间：2019-07-08 10:10:53 大小：323K 上传用户：z00查看TA发布的资源 标签：Intel Stratix 10 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

Intel® Stratix® 10 器件支持 IEEE Std. 1149.1 BST 和 IEEE Std. 1149.6 BST。执行Boundary Scan Test（BST，边界扫描测试）时，不使用物理测试探针（physical test probe）就能测试管脚连接并采集正常运行中的功能性数据。器件中的边界扫描单元（BSC）可强制信号映射到管脚，或从管脚或内核逻辑信号采集数据。强制性测试数据被串行移入 BSC。采集的数据被串行移出，并与预期结果进行外部比较。

使用封装中的多种管芯实现 Intel Stratix 10 器件，并通过 EMIB（Embedded Multi-die Interconnect Bridge，嵌入式多管芯互连桥接）技术进行连接。多管芯实现对 BST 透明。可用于整个器件的单边界扫描链包含封装中的每个管芯。

配置前，配置后和配置期间，都可在 Intel Stratix 10 器件上运行 BST。


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