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基于簇的FPGA架构中互连故障的测试与诊断
资料介绍
随着IC密度的增加，基于集群的FPGA架构正在成为主要FPGA制造商的首选架构。基于集群的体系结构是将多个逻辑块组合在一起形成粗粒度逻辑块的体系结构。虽然群集中经常出现的高密度局部互连有助于提高FPGA利用率，但它也极大地使FPGA互连测试问题复杂化。为了解决这个问题，我们开发了一种分层方法来定义一组FPGA配置，以实现互连故障检测和诊断。该技术能够检测涉及群集内互连和群集外互连的桥接故障。利用基于群集的磁贴的层次结构来与群集外配置分开定义群集内配置，从而提高配置定义过程的效率。这项工作的基础是每个故障的可检测性条件的简洁表达，以及每个故障对的可区分性条件。通过保证群集内和群集外配置都具有多个测试透明属性，可确保分层故障检测能力。
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