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外设自检与故障注入测试设计.docx
资料介绍
STM32G474逆变器系统中外设自检与故障注入测试设计
1 概述
外设自检与故障注入测试是嵌入式系统可靠性验证的重要手段，通过系统化的自检流程和故障注入测试，验证系统在异常情况下的行为和恢复能力。逆变器系统作为安全关键设备，外设自检功能是确保系统安全运行的基础。本章基于STM32G474微控制器，设计面向逆变器系统的外设自检与故障注入测试方案。
3 自检实现
3.1 上电自检
uint8_t PBIT_Execute(void) {
uint8_t result = PASS;
// 1. CPU寄存器测试
if(!CPU_RegisterTest()) result = FAIL;
// 2. Flash CRC校验
if(!Flash_CRCCheck()) result = FAIL;
// 3. RAM测试
if(!RAM_MarchTest()) result = FAIL;
// 4. ADC自检
if(!ADC_SelfTest()) result = FAIL;
// 5. HRTIM自检
if(!HRTIM_SelfTest()) result = FAIL;
// 6. CAN自检
if(!CAN_LoopbackTest()) result = FAIL;
// 7. 温度传感器
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| STM32G474逆变器_技术文件_751_外设自检与故障注入测试设计.docx | 38K |
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