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电力电子变换器功率半导体器件老化测试与筛选技术设计
资料介绍
电力电子变换器功率半导体器件老化测试与筛选技术设计
概述
功率半导体器件老化测试与筛选技术是电力电子变换器器件质量管理的重要环节,通过老化测试剔除早期失效器件,通过筛选测试保证器件的性能一致性,提高产品的可靠性。在基于STM32G474的逆变器系统中,老化测试与筛选技术可用于逆变器功率器件的来料质量控制。本章系统阐述老化测试的方法、筛选测试的流程及在变换器中的应用。
老化测试方法
高温老化
高温老化将器件在高温条件下存储一定时间,加速早期失效器件的失效。高温老化的温度通常为125°C至150°C,时间为24小时至168小时。
功率老化
功率老化在器件上施加功率应力,使器件经受温度循环,加速焊料层疲劳和键合线脱落等失效。
筛选测试
静态参数筛选
静态参数筛选测量器件的击穿电压、导通压降、阈值电压和漏电流等参数,剔除参数超出规格的器件。
动态参数筛选
动态参数筛选测量器件的开关时间、开关损耗和栅极电荷等参数,剔除开关特性异常的器件。
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| STM32G474逆变器_技术文件_1687_电力电子变换器功率半导体器件老化测试与筛选技术设计.docx | 37K |
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