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基于PIC16F946的紫外线照度测量系统研究

更新时间:2020-02-16 19:47:25 大小:3M 上传用户:IC老兵查看TA发布的资源 标签:pic16f946单片机 下载积分:3分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

紫外线(UV)固化技术由于其固化速度快、温度低、节省能源、无污染等优点,已广泛应用于涂料、油墨、胶粘剂和电子产品等诸多领域。自此,对紫外线照度测量的必要性也在不断提高,以便为厂家在生产过程中提供紫外线强度界定的标准。本文通过前期的市场调研,对影响紫外线固化效果的因素,现有测量仪器的现状以及未来发展趋势做了深入的研究,也查阅了国内外各种前沿测量技术的相关文献,综合其优劣,提出了基于PIC16F946单片机的紫外线照度测量系统方案。

    本系统以PIC16F946单片机为核心,经滤光片和余弦校正下器补偿后的紫外光通过S1226型硅光电二极管转换成光电流信号,再经I/V、A/D转换,由PIC16F946进行数据处理并计算出相应光强度,用LCD显示,也可经串口传至上位机。软件设计上采用模块化设计的原则,使程序可读性更高、易移植,特别对标度变换程序做了详细分析。最后,提出了系统性能改进的相关措施以及硬件、软件方面的具体抗干扰方法。

    测量系统经多次实验证明,具有较高的精度,系统测量误差在2.5%以内。与国内外同类产品相比,具有稳定性高,采用电池供电后,携带方便和低功耗等特点。能应用于各种恶劣的工作环境,可替代进口同类产品,在紫外线固化领域具有广泛的市场应用前景。

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