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NI半导体测试系统STS

更新时间：2018-06-15 17:24:48 大小：1M 上传用户：xielinghui查看TA发布的资源 标签： 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(8) 举报

资料介绍

使用半导体测试系统降低测试成本 半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统，适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，把产品的所有关键测试资源整合在一起，这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试员的维护负担，从而节约了测试成本。此外，STS采用开放的、模块化的设计，使您可以利用最新的工业标准的PXI模块，获得更多的仪器资源和更强大的计算能力

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文件名 大小
NI半导体测试系统STS 1M

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全部评论(8)

  • 2020-03-20 16:20:35cxz_00

    感谢分享

  • 2018-12-07 10:23:23hbzjt2011

    官方资料，可以对产品有更详细的了解！

  • 2018-11-16 11:02:48电子星辰

    还没怎么看懂，谢谢分享

  • 2018-08-20 10:07:46reno5514

    资料很好

  • 2018-07-07 17:06:32zly1986ZLY

    文章非常详细的介绍了半导体测试系统的相关内容，学习了，谢谢！

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