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IGBT的失效
资料介绍
梗概
第一部分：开关过程中IGBT的失效原因
第二部分：开关过程中IGBT失效现象
第三部分：IGBT抗失效设计制造技术拾贝
第四部分：IGBT防失效使用注意事项拾零
第二部分：
开关过程中IGBT的失效现象
、箱位感性负载（CIL）硬开关中
IGBT的失效
二、无雏位感性负载（UIS）硬开关中
IGBT的失效
三、负载短路（SC）硬开关中
IGBT的失效
1，以上分析了开关各个阶段可能发生的失效2，特别值得注意的是：
·寄生晶闸管闩锁是导致失效的一个主要威胁贯穿在开关各个阶段
·动态失效是开关过渡过程中的重大威胁，要引起足够警惕
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| IGBT的失效.pdf | 4M |
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