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IGBT的失效
资料介绍
梗概
第一部分:开关过程中IGBT的失效原因
第二部分:开关过程中IGBT失效现象
第三部分:IGBT抗失效设计制造技术拾贝
第四部分:IGBT防失效使用注意事项拾零
第二部分:
开关过程中IGBT的失效现象
、箱位感性负载(CIL)硬开关中
IGBT的失效
二、无雏位感性负载(UIS)硬开关中
IGBT的失效
三、负载短路(SC)硬开关中
IGBT的失效
1,以上分析了开关各个阶段可能发生的失效2,特别值得注意的是:
·寄生晶闸管闩锁是导致失效的一个主要威胁贯穿在开关各个阶段
·动态失效是开关过渡过程中的重大威胁,要引起足够警惕
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