积分商城

最新搜索： RFID SDK HFSS RDA5807 tina microBUCK和microBRICK直流/直流稳压器解决方案 嵌入式八股文
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计

更新时间：2020-09-03 09:13:42 大小：387K 上传用户：songhuahua查看TA发布的资源 标签：集成电路边界扫描 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

集成电路规模的不断增加,使测试的开销在产品总成本中所占的比重越来越大,测试的过程更为复杂,因此对电路芯片需要采用边界扫描测试进行可测性设计。对边界扫描控制器中的测试方式选择TMS模块的功能进行了详细说明,给出了该模块的电路设计方法与步骤。通过与测试软件的结合,能检测芯片间互连线的开路故障、短路故障、固定型故障,以及芯片的内部逻辑功能是否正常。

The increasing scale of integrated circuits makes that the cost of the testing process is increasing in the proportion of the total cost of the product. The testing process of chip is more complex, therefore it is needed to adopt the boundary scan testing which is one of design for testability. The function of test mode selection module in boundary scan controller is demonstrated in this paper, the circuit design method and procedure are given. The combination of boundary scan controller and testing software can detect the open faults, bridge faults, stuck-at faults, and can detect the internal logic function of the chips.

部分文件列表

文件名 大小
集成电路边界扫描测试系统中测试方式选择模块的电路设计.pdf 387K

【关注视频号领20积分】   【关注公众号立即送20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号