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HBM3E 12层堆叠量产技术.docx

更新时间:2026-08-18 08:52:39 大小:37K 上传用户:江岚查看TA发布的资源 标签:HBM3E层堆叠TSV微凸块键合量产技术 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

存储芯片的HBM3E 12层堆叠量产技术

一、引言

HBM3E 12层堆叠(12H)是当前AI加速器的主流内存方案,单颗带宽超过1.2TB/s,容量为36GB,在AI训练与推理场景中广泛部署。HBM3E 12H的量产技术经过持续的工艺优化,良率已从初期的50%60%提升至80%以上。

HBM3E 12H的量产技术包括TSV成形、微凸块键合、晶圆减薄与堆叠对准。HBM3E采用微凸块互连,间距为25μm,通过TC键合实现芯片之间的电气连接。HBM3EDRAM裸片减薄至约40μm,在12层堆叠中控制总厚度在720μm以内。2026年,HBM3E 12H的产能持续扩展,但供需缺口仍高达51%58%。本文将从工艺技术、良率管理、产能扩展与性能表现四个方面,对HBM3E 12层堆叠的量产技术进行全面分析。

二、工艺技术

2.1 TSV成形

HBM3ETSV直径约为510μm,通过DRIE刻蚀、ALD绝缘层沉积、铜电镀填充与CMP平坦化完成。

2.2 微凸块键合

HBM3E的微凸块间距为25μm,通过TC键合实现芯片之间的电气连接。

三、良率管理

3.1 KGD筛选

HBM3E在堆叠前对每层DRAM裸片进行KGD测试,确保只有合格的裸片进入堆叠。

3.2 堆叠良率

HBM3E的堆叠良率受微凸块键合质量、堆叠对准精度与晶圆减薄质量的影响。


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