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GBT14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

更新时间：2024-06-21 23:42:24 大小：180K 上传用户：xuzhen1查看TA发布的资源 标签：数字锁相环 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

GBT14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环）电参数测试方法的基本原理。

数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB 3834《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》.

1 总要求

1.1 若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。

1.2 测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。

1.3 测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。

1.4 被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。

1.5 若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。

1.6 测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络。

1.7 若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。

1-8 测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。

2 参数测试

2.1 动态功耗 P.

2.1.1 目的

测试器件动态工作时的功率。

2.1.2 测试原理图

P.测试原理图见图 1。

2.1.3 测试条件

测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。

a.

环境温度；压控振荡器输入电压；c.

定频网络的电阻和电容；d.压控振荡器输出频率。

2.1.4 测试程序

2.1.4.1 将被测器件接入测试系统中。

2.1.4.2 接通电源。

2-1.4-3 调节直流信号源的输出电压，使压控振荡器输入电压V：为电源电压V+的。

2.1.4.4 调节定额网络中的电容，使压控振荡器输出频率为规范值。

2-1-4.5 在电源端读取电流14的平均值。

2.1.4.6 按式（1）计算 P.：

2.2.3 测试条件

测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。

a-

环境温度；b.

电源电压；c.

压控振荡器输入电压；d.

定频网络的电阻和电容；e.

压控振荡器输出端电平和波形。

2.2.4 测试程序

2.2.4.1 将被测器件接入测试系统中。

2.2.4.2 接通电源。

2.2.4.3 调节直流信号源的输出电压使压控输入电压Vi为电源电压V+.


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